2026年5月14日北京迈肯思参加成都CEIA电子智造研讨会
会议现场重磅展示红外聚焦返修技术与通孔器件返修系统,同步发布自主研发的全自动智能图像采集系统、芯片共面度检测系统,凭借硬核产品实力吸引大量客户进行了深度的技术交流,现场技术交流氛围热烈。此次会议取得圆满成功。